Biblioteca Julio Castiñeiras. Sistema de Información Integrado - Facultad de Ingeniería UNLP
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Información bibliografica (registro INGC-MON-017714)
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Título:
 Medición de tiempo de vida media de portadores minoritarios en semiconductores /
Autor:
 Montero, Sebastián.
Otros autores:
| Cédola, Ariel P, dir.  |  Peltzer y Blancá, Eitel L, dir.  | 
Editado por:
Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electrotecnia,
Tipo:
 Proyectos de Trabajos Finales
Año de publicación:
2009.
Lugar de publicación:
La Plata :
Descripción física:
 186 p. : ;anillado
Clasificación:
 TFE 735
Materias:
 | SEMICONDUCTORES | PORTADORES MINORITARIOS |
Notas:
 Trabajo Final de Ingeniería Electronica;735
Ubicación:
 TFE 735 MONTERO
Sumario:
 Introducción - Tiempos de vida de portadores minoritarios en semiconductores - Métodos de medición de tiempos de vida - Diseño del sistema de medición - Desarrollo del software - Diseño del circuito impreso - Resultados - Conclusiones - Apéndices.
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TFE735
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