Biblioteca Julio Castiñeiras. Sistema de Información Integrado - Facultad de Ingeniería UNLP
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Información bibliografica (registro INGC-MON-019020)
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Título:
 Microstructural characterization of materials / David Brandon; Wayne D. Kaplan.
Autor:
 Brandon, David.
Otros autores:
| Kaplan, Wayne D.  | 
Editado por:
John Wiley and Sons,
Tipo:
 Libros - (Monografías)
Año de publicación:
2008.
Lugar de publicación:
West Sussex :
Descripción física:
 xiv; 536 p. : figuras
ISBN:
 9780470027851
Clasificación:
 620.2
Materias:
 | MICROESTRUCTURAS | MICROSCOPIA OPTICA | MICROSCOPIA ELECTRONICA | MATERIALES |
Edición:
 2nd ed.
Ubicación:
 620.2 BRA Bloque 11
Sumario:
 The concept of microstructure - Diffraction analysis of crystal structure - Optical microscopy - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Microanalysis in electron microscopy - Scanning probe microscopy and related techniques - Chemical analysis of surface composition - Quantitative and tomographic analysis of microstructure - Appendices.
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