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Biblioteca Julio Castiñeiras. Sistema de Información Integrado - Facultad de Ingeniería UNLP
Facultad de Ingeniería | 115 esq.47 | Horario: Lunes a Viernes 8 a 19 hs.
E-mail: bibcentral@ing.unlp.edu.ar
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Información bibliografica (registro INGC-MON-018561) |
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Título: |
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Goldstein, Joseph I... [et al.]. |
Otros autores: |
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Sawyer, Linda.
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Lifshin, Eric.
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Lyman, Charles E.
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Joy, David C.
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Echlin, Patrick.
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Newbury, Dale E.
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Goldstein, Joseph I.
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Michael, Joseph R.
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Editado por: |
Springer,
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Tipo: |
Libros - (Monografías)
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Año de publicación: |
2003.
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Lugar de publicación: |
New York :
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Descripción física: |
xix, 690 p. : figuras |
ISBN: |
9781461349693
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Clasificación: |
57.086/.088
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Materias: |
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MICROSCOPIA DE BARRIDO |
PREPARACION DE MUESTRAS |
RAYOS X |
MICROSCOPIA |
MICROANALISIS |
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Edición: |
3td ed.
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Ubicación: |
57.086/.088 SCA Bloque 10 |
Sumario: |
Introduction - The SEM and its modes of operation - Electron beam-specimen interactions - Image formation and interpretation - Special topics in scanning electron microscopy - Generation of X-rays in the SEM specimen - X-ray spectral measurement: EDS and WDS - Qualitative X-ray analysis - Quantitative X-ray analysis: the basics - Special topics in electron beam X-ray microanalysis - Specimen preparation of hard materials: metals, ceramics, rocks, minerals, microelectronic and packaged devices, particles and fibers. |
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